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Mikroskopie und Eigenschaften

Lichtmikroskop LEICA

Einsatzbereich

• Begutachtung von An-, Dünnschliffen, Dünnschnitten,
• Thermooptische Untersuchungen

Gerätedaten

• Max. Vergrößerung: 1000-fach,
• Auflicht,
• Durchlicht
• Hellfeld
• Dunkelfeld
• Polarisation
• Phasenkontrast
• Heiztisch (RT...125 °C)
• Photo- und Videoeinrichtung

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Rasterelektronen-
Mikroskop JSM 6300 (in Kopplung mit EDX)

Einsatzbereich

• Phasenmorphologie- und Strukturcharakterisierung
• Elementaranalyse

Gerätedaten

• Auflösung: 5 nm
• Sekundärelektronen- und Rückstreudetektor
• Photoeinrichtung
• Videoprinter
• Punktauflösung: 0,23 nm

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Transmissionselektronen-
mikroskop JEM 2010

Einsatzbereich

• Phasenmorphologie- und Strukturcharakterisierung
• Elementaranalyse

Gerätedaten

• Auflösung: 5 nm
• Sekundärelektronen- und Rückstreudetektor
• Photoeinrichtung
• Videoprinter
• Punktauflösung: 0,23 nm

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Quantimet 570

Einsatzbereich

• Quantitative Struktur- und Gefügeuntersuchungen von allen Vorlagen (Papierbild, Diapositiv, Negativ, Videobild vom Band, digitale Vorlagen)
• Analyse nach: Größenparametern, Anteilen,

Gerätedaten

• Quantitative Bildanalyse

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